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主要銷售頻譜分析儀、網絡分析儀、信號發生器、LCR測試儀、示波器、電源、探頭、數字萬用表、數據采集儀、精密源表、功率計、電池測試儀、電阻測試儀等高頻儀器儀表
詳細介紹 技術資料
| 型號 | 模擬通道 | 輸出頻率 | 記錄長度 | 采樣率 | 垂直分辨率 |
|---|---|---|---|---|---|
| AFG31021 | 1 | 25 MHz | 16 MSa/通道 | 250 MS/s | 14 位 |
| AFG31051 | 1 | 50 MHz | 16 MSa/通道 | 500 MS/s | 14 位 |
| AFG31022 | 2 | 25 MHz | 16 MSa/通道 | 250 MS/s | 14 位 |
| AFG31052 | 2 | 50 MHz | 16 MSa/通道 | 500 MS/s | 14 位 |
| AFG31101 | 1 | 100 MHz | 16 MSa/通道 | 1 GS/s | 14 位 |
| AFG31151 | 1 | 150 MHz | 16 MSa/通道 | 2 GS/s | 14 位 |
| AFG31102 | 2 | 100 MHz | 16 MSa/通道 | 1 GS/s | 14 位 |
| AFG31152 | 2 | 150 MHz | 16 MSa/通道 | 2 GS/s | 14 位 |
| AFG31251 | 1 | 250 MHz | 16 MSa/通道 | 2 GS/s | 14 位 |
| AFG31252 | 2 | 250 MHz | 16 MSa/通道 | 2 GS/s | 14 位 |
AFG31000 任意波函數發生器模擬電路檢定
這是一個模擬世界。 所有物理量均使用模擬信號捕獲和表示。 因此，需要檢定放大器、濾波器和轉換器等模擬電路的性能。
InstaView? 技術避免在阻抗不匹配的 DUT 上增加的波形不確定性
頻率范圍為 25 MHz 至 250 MHz
由于信號保真度高，無需使用外部濾波器或衰減器
由于具有頻率捷變特性且正弦波平坦度經過校準，頻率響應測試可以輕松完成
AFG31000 任意波函數發生器真實場景信號復制
傳感器廣泛用于幾乎所有現代化電子設計領域，從汽車到醫療器械再到電子消費品。 迄今為止，使用 AFG 捕獲波形并進行復制以便排除故障或驗證一直是極具挑戰的過程。
ArbBuilder 可直接導入多個泰克示波器產品系列保存的 csv 格式的波形
高達 128 M 點的任意內存極大地增加了信號的長度
低噪音本底使信號更為清晰
AFG31000 任意波函數發生器函數驗證和性能檢定
在產品上市前，測試工程師必須進行大量測試用例，確保產品滿足技術規格。 但是，此過程比較耗時且重復。
完全可編程，實現自動測試和手動測試的直觀用戶界面
波形序列使用戶在一個序列中序列化所有測試程序
靈活的重復跳轉方法保證高效率
高達 128 M 點的任意內存和內置非易失性閃存存儲所有波形和測試程序
AFG31000 任意波函數發生器系統與時鐘或脈沖同步
數字設計中的所有電路部分按照時鐘速度同時工作。大系統中的所有設備必須與觸發信號協調，以確保它們正常、可靠地工作。使用 AFG31000 是生成時鐘和觸發脈沖的有效方法。
脈沖/方波頻率范圍高達 160 MHz
頻率捷變實現時鐘不同速率的無縫切換
易用的向導說明指導您完成多臺設備的同步過程以便增加通道數
低抖動水平，讓您在觸發系統時更加自信
AFG31000 任意波函數發生器雙脈沖測試
雙脈沖測試是一種用于測量開關器件參數和評估 MOSFET 和 IGBT等功率器件動態性能的方法。雙脈沖測試可測量開啟參數、關閉參數和反向恢復參數。
執行此測試可：
確保MOSFET 和 IGBT 等功率器件滿足產品規格書中的規格
確認功率器件或電源模塊的實際值或偏差
在各種負載條件下測量這些開關器件的參數，并在多個設備上驗證性能
AFG31000 任意波函數發生器高級研究和教育
研究人員和教師需要大量信號才能完成研究和教學工作。 測試可以像一系列的脈沖一樣簡單，模擬 Geiger-Muller 計數器的輸出，或者像一個長基帶 IQ 一樣復雜。
InstaView? 技術避免因連接復雜負載上增加輸出波型的不確定性
整合多種特性與功能
雙工作模式均衡易用性和靈活性以便生成最復雜波形
內置的 ArbBuilder 用于在屏幕上直接生成和編輯任意波形
